Elipsometru compact, de mare precizie – ALPHA-SE

de la Woollam Co.

Spectroelipsometrul Alpha SE este un instrument elipsometric din gama “low – cost” are permite determinarea rapida a grosimilor si constantelor optice. Este controlat de computer prin intermediul unui port USB si este extrem de compact.

Features
Ex-situ
Compensator rotativ
Dimensiuni mici, compact
Intretinere simpla si costuri minim
Semi – automatizat

Pentru masuratorile de rutina (grosimi filme subtiri si indice de refractie), se monteaza proba de masura, se alege modelul cel mai potrivit si se transmite comanda de efectuare a masuratorii. Rezultatele se obtin in cateva secunde.

Domeniul spectral: 380 – 900 nm, cu 180 de lungimi de unda (puncte de masura)

Unghi de incidenta: 65, 70 si 75, plus incidenta zero (masuratoare directa)

Conectivitate: USB (1.1 sau mai mult)

Ajustarea automata a inaltimii de plasare a probei de masura

Timp de achizitie:

  • 3 s in modul rapid
  • 10 s in modul standard
  • 30 s in modul extins

Optiuni:

  • Celula pentru lichide
  • Adaptor pentru QCD – D
  • Optica de focusare
  • Dispozitiv pentru masuratori de transmisie
  • Masa de translatie
  • Camera
Constante optice si grosime, anizotropie, gradient indice de refractive, compozitie

Instrumentul este foarte precis si usor de utilizat;el permite determinarea directa a constantelor optice, grosimilor, gradientul indicelui de refractive, compozitia, etc.

Filme autoasamblate

Masuratorile de spectro elipsometrie sint extrem de sensibile cand sint analizate filmele foarte subtiri (<10 nm). Starturile subtiri autoasamblate pot fi analizate extrem de rapid, iar comparatia dintre diverse probe este usor de realizat.

Self-assembled monolayers

Phase information of a spectroscopic ellipsometry measurement is highly sensitive to very thin films (<10 nm). Self-assembled monolayers can be assessed and quickly compared using the Alpha-SE.

Filme absorbante

Acoperiri pe sticla

Follow us: twitter linkedin facebook
European offices
© LOT Quantum Design 2016